AFM-拉曼耦联配置 
   HORIBA Scientific拉曼技术可与扫描探针显微镜（SPM）进行耦合，构建一个功能强大且灵活的AFM-拉曼平台。研究人员可根据期望的AFM-拉曼工作模式来选择合适的仪器。
    所有具备激光扫描技术的配置都可以通过对扫描探针上的激光反射进行快速成像或者根据针尖增强拉曼散射信号对热点进行成像，因而该配置能够准确、可靠地将激光定位到SPM探针针尖上。
    高通量的光信号收集和检测硬件保证在快速扫描的同时采集每一点的SPM信号和拉曼光谱。

将您的所有需求集成到一个强大的系统中

我们所提供的解决方案使用直接光路耦合，对其进行优化以实现高通量。该平台可以把原子力显微镜（AFM）、近场光学技术（SNOM,NSOM）、扫描隧道显微镜（STM）和共焦光学光谱仪（拉曼和荧光成像）耦合到一台多功能的仪器中，以实现针尖增强拉曼散射（TERS）或共点测量。

结合纳米成像和化学分析

单层、双层和三层石墨烯的共点AFM和拉曼成像

• AFM和其他SPM技术可提供分子级别分辨率下的形貌、力学、热能、电磁场和近场光学特性。
• 共焦拉曼光谱和成像可提供纳米材料在亚微米空间分辨率下的详细化学信息。
• 同步测量的平台，有助于您获得可靠且位置高度重合的图像。
• 结合高性能和易用性，HORIBA将会根据您所选择的SPM制造商提供一个可靠、全功能的解决方案
• 针尖增强拉曼光谱(TERS)的光学、机械和软件都是经过优化设计的，同时有HORIBA在拉曼光谱几十年的经验做技术支持，您可以自信地使用这一技术。
• 一个工具多种可能：AFM-拉曼有助于您提高效率

快速找到纳米对象
 由于纳米材料具有特殊的化学属性，拉曼峰信号较强，因此在光学显微镜下不可见的纳米材料可以通过超快速拉曼成像进行搜索和定位。在找到样品后，我们可以对感兴趣的位置进行形貌、机械、电学和热能分析。

交叉验证您的数据 
  拉曼光谱可以证实材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的对比度较差而难以确定层厚，拉曼则可以从另外一个角度去获得相同的信息，此外拉曼还提供更多有关结构和缺陷的信息，此信息只有具备原子分辨率的AFM才能提供。

获得感兴趣纳米结构的化学信息
  在表征纳米结构时，有时只获得物理性质是不够的。高分辨的拉曼共焦成像可提供详细的化学成分信息，这是其他SPM传感器无法实现的。

底部耦联：针对透明样品

顶部耦联：针对共点拉曼或倾斜针尖的TERS

侧向耦联：测定不透明样品的TERS的优异解决方案

可提供多端口和并排配置

注：该仪器未取得中华人民共和国科研注册证，不可用于临床诊断或healer等相关用途