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TRM-HWF1材料红外发射率测试仪采用反射率法的测试原理,即通过主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率,进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在2.5 μm - 40μm波段的发射率。对特殊需要的用户,通过专用的控温加热装置,在常温至300℃温度范围加热样品,进行发射率变温测量。
1.仪器中有小型标准黑体辐射源,采用进口PID高精度微机控温仪(控温范围:常温~300℃,精度: ±0.2℃),使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围,而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。
2.采用了的光学调制技术,使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。
3.在仪器设计中,考虑到样品漫反射引起的测量误差,除镜反射(MR)探测通道 外,还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道,从而确保了仪器的测量精度。
4.在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术,较好地实现了对微弱信号的探测,进一步提高了仪器性能。
5.本仪器操作简单、使用方便、测量快速。
6.在测量过程中不损伤被测样品。
7.标准RS-232通讯串口,与电脑软件实时通讯。
● 该采集器采用高性能微处理器为主控CPU,大容量数据存储时,可连续存储数据40000条以上,数据采样率高于0.5秒/通道,工业控制标准设计,便携式防震结构,大屏幕字液晶显示屏,轻触薄膜按键,操作简单。适合在恶劣工业环境使用。具有停电保护功能,当交流电停电后,由充电电池供电,可维持24小时以上。
● 红外发射率性能分析软件可实时显示测数据,每隔1秒更新一次,检测结果自动存储(存
该仪器主要用于太阳能产品、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。该设备主要应用: 太阳能集热器生产的质量控制优质的太阳能集热器的效率取决于收集器表面非常低的发射率,因此TRM-HW1也是此行业质量控制的理想设备;镀膜玻璃的质量控制热保护绝缘玻璃的的低U-值取决于玻璃镀膜的低发射率,对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。