涂层测厚仪MiniTest2500/4500

涂层测厚仪MiniTest2500/4500

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具体成交价以合同协议为准
2022-07-12 14:13:08
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产品简介

涂层测厚仪MiniTest2500/4500德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest2500/4500涂层测厚仪作为MiniTest1100-4100系列的升级产品,为涂层测量领域的任务提供了多种探头、不同的校准方法和评估选项

详细介绍

涂层测厚仪MiniTest2500/4500


德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest 2500/4500涂层测厚仪作为MiniTest1100-4100系列的升级产品,为涂层测量领域的任务提供了多种探头、不同的校准方法和评估选项。
MiniTest 2500/4500涂层测厚仪具有IP65等级, 显示屏和背光键盘,以及其他有用的功能。可存储达200万个测量值,通过USB接口向计算机传输数据。MiniTest4500还提供蓝牙连接。
MiniTest2500/4500兼容MiniTest1100系列探。

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MiniTest1100系列(已停产)

仪器特点
-   钢上的非磁性涂层厚度范围可达0~50 mm
-   用于有色金属上的绝缘涂层厚度范围可达0~100 mm
-   耐温探头,温度250°C和350°C
-   测量细管内壁的直角加长杆探头
-   探头都配有耐磨表面。

功能介绍


   型号MiniTest2500MiniTest4500
   可存储的读数总数
   批组数量
   具有独立校准值的应用程序存储数量
   具有相同校准值的批组每个应用程序存储的批组数量
2000000
1
-
-
2000000
超过9500
99
99
   统计功能(每批组)kvar, n, max., min.kvar, n, max., min., CP, CPK
   校准-如果无基材使用,则通过涂层进行校准(CTC)
   补偿功能-用于从读数中加/减一个恒定值
   限值设置(用户自定义)-超出限制时的光信号和声音信号报警
   测量单位μm, mm, cm, mils, inch
   接口
   可升级接口
USB
-
USB和蓝牙 4.0
报警输出,脚踏开关触发,RS 232接口
   电源/每次更换电池的工作时间3 x AA (LR06) 电池和USB/大约为150小时(不使用背光)
   规范和标准DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882;ISO 19840;
ASTM B244,B499, D7091, E376
   显示   53 x 46 mm,带背光
   操作温度/存储温度   10 ~60°C / –20 ~ 70°C
   尺寸/重量53mm x 89mm x 36mm/ 320g(仪器包括电池),橡胶保护套90g
   防护等级IP 65

探头选择
探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

探头量程低端
分辨率
误差曲率
半径(凸/凹)
测量
区域直径

体厚度
F050-500μm0.1μm±(1%+0.7μm)0.75/5mm3mm0.1mm
F30-3000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mm
F100-10mm5μm±(1%+10μm)5/16mm20mm1mm
F200-20mm10μm±(1%+20μm)10/30mm40mm2mm
F500-50mm10μm±(3%+50μm)50/200mm300mm2mm
N020-200μm0.1μm±(1%+0.5μm)1/5mm2mm50μm
N.08Cr0-80μm0.1μm±(1%+1μm)2.5mm2mm100μm
N100-10mm10μm±(1%+25μm)25/100mm50mm50μm
N200-20mm10μm±(1%+50μm)25/100mm70mm50μm
N1000-100mm100μm±(1%+0.3mm)100mm/平面200mm50μm
FN1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mmF:0.5mm/N:50μm
FN1.6/900-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面/6mm5mmF:0.5mm/N:50μm
F2HT0-2000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mm
注:F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
FN1.6/90为直角探头,用于管内测量
N.08Cr用于测量铜上镀铬。
F2HT为高温探头,有两款,允许在达250°C或350° C表面温度的热表面上进行涂层厚度测量


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