品牌
厂商性质
所在地
ALPhANOV双激光断层注入显微镜D-LMS
面议THORLABS光纤端面干涉仪GL16
面议ALPhANOV热激光刺激TLS
面议ALPhANOV光子晶体光纤接口Ti-PULS
面议ALPhANOV光子晶体光纤接口MIR-PULS
面议ALPhANOV单激光故障注入显微镜S-LMS
面议NEDO激光器Nedo CUBE
面议WENGLOR光电传感器HN55PA3
面议FBGS光栅解调仪FBG-Scan 800
面议FBGS光栅传感器DTG- A3A4-F00
面议Malvern Panalytical激光衍射粒度分析仪Mastersizer 3000
面议APRESYS长距离激光测距仪LRB10km
面议SurPASS 3系列具有在实际条件下对宏观固体进行全自动zeta电位分析的功能。作为电动分析仪,它们采用经典的流动电位和流动电流法直接分析表面zeta电位。zeta电位与固体/液体界面的表面电荷有关,是了解表面性质和开发新型专用材料的关键参数。SurPASS 3系列允许通过流动电位和流动电流测量直接分析固体/液体界面的zeta电位。这使得技术材料能够以高的可靠性和再现性获得低至几毫伏的zeta电位。无需复杂的评估或专业知识,即可即时访问表面电荷信息。
SurPASS 3测量传感器的范围很广,涵盖了所有内容:精心设计的测量池可容纳从粉末、纤维到平面固体的任何几何形状的样品。用于隐形眼镜、中空纤维膜、柔性管和小瓶的样品专用测量传感器可以对具有复杂几何形状的样品进行表面电荷分析。“插入并启动”功能允许快速更换测量单元。该软件自动识别测量细胞并显示zeta电位。
产地:奥地利
流电位:±2000 mV±(0.2%+4μV)
流电流:±2 mA±(0.2%+1 pA)
电池电阻:5Ω至20 MΩ±(2%+0.5Ω)
压力测量:3500 mbar±(0.2%+0.5mbar)
外部压力供应(压缩N₂) 压差>1200mbar时需要
pH值:pH 2至pH 12
电导率:0.1 mS/m至1000 mS/m
温度范围:20°C至40°C
温度控制:可选
样本量要求
多孔薄膜、箔或板
矩形:20 mm x 10 mm(厚度:max.2 mm)
圆盘形:直径14mm或15mm(厚度:max.2mm)
无孔薄膜、箔或板
矩形:20 mm x 10 mm(厚度:max.2 mm)或min.35 mm x 15 mm(厚度:max.40 mm)
圆盘形:直径14 mm或15 mm(厚度:max.2 mm)或直径min.17 mm(厚度:max.40 mm)
颗粒粒径:min.25μm
光纤:min.100 mg
织物:min.30mmx 30mm
中空纤维膜长度:min.170 mm
陶瓷膜
平板:直径14 mm
单通道:外径10 mm或13 mm
多通道:外径25 mm或30 mm
圆柱形芯
高度:max.4英寸
直径:1英寸
软管长度:min.100 mm
外径:0.7mm至6 mm
电源:AC 115至230 V,50至60 Hz,200 VA
尺寸:600 mmx 432mmx 245mm(长x宽x高)
占地面积:612mmx 536mm(深x宽)
间隙:360 mm
重量:26 kg