APRE干涉仪 - 标准和定制 - 提高您的计量能力，使您可以满足客户的需求。从我们的 S 系列干涉仪中选择并构建适合您的系统。

在光学制造方面，不允许出现停机或不准确的情况。具有低成像分辨率和过时软件的干涉仪会牺牲时间和质量，从而削减利润并损害您的声誉。

• 1百万像素 @160 Hz 衍射极限成像
• 10倍虚拟变焦
• 2倍更大的斜率接受度
• 快速、准确的表面和波前测量

• 输出直径：51 毫米（2 英寸）
• 工作台的光学中心线：108 毫米（4.25 英寸）
• 对焦范围：±2米
• 尺寸（长 x 宽 x 高）63 x 29 x 18 厘米（24.8 x 11.4 x 7 英寸）
• 重量：25 公斤（55 磅）
• 对准系统：具有2° 捕获范围的十字线的 2 点
• 激光源：稳频 SLM 633 nm HeNe（多种功率和 λ 选项）
• 激光频率稳定性：<0.0001纳米
• 相干长度：>100米
• 输出极化：圆
• 相机分辨率：2044 X 2044 像素 [1024 X 1024 像素]
• 数字化：12位
• 安装配置：水平或垂直
• 温度：15º C 至 30º C（59º F 至 86º F）
• 湿度：5 至 95% 相对，非冷凝
• 隔振：推荐用于 PSI 和 VTPSI 的隔离系统