晶片晶圆表面缺陷检测灯SL8804-GY简介：

SL8804-GYSL是一款黄绿光半导体材料表面检查灯，可用于检测晶片、晶圆表面缺陷，利用适合的LED灯源，通过光学镜片折射出特殊波长的光源，照在晶片、晶圆表面折射出光路，从而发现表面的缺陷瑕疵。取代传统的照明设备和光学系统机台，直接通过照明光线和肉眼，观测出晶片、晶圆表面表面的瑕疵，极大的节省了一般工厂的采购成本。

SL8804-GYSL采用人眼最敏感510-590NM之间波长光，来做与明确的判别，可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光，几乎可检测出所有尘埃，大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达90000LX，最小可以检测1μ的表面脏污，比传统的检查灯，效用增强10倍.

晶片晶圆表面缺陷检测灯SL8804-GY规格参数：

型号：SL8804-GY桌面式晶圆检查灯，晶片颗粒缺陷仪，wafer表面检测灯
光 源：高亮度的6000K LED加滤光片和光学镜片； LED平均寿命是30000小时
照度：距离45cm → 48000lx；距离30cm → 68000 lx（我们掌握了核心技术，我们可以提供不同照度的平行灯，它们可满足不同客户的要求）
照射面积： 18cm直径的光圈 在40cm的距离
调光方式： 无极调光：从0% ~ 99%；
消耗功率：20 W
电源：采用110-220V电源供电（交流供电），可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性： > 90 ％
产品尺寸：11.6 * 10.8CM; 净重： 0.96KG(不含配件）

SL8804系列产品的简写和代号

SL-8804XX

H代表高强度365NM紫外灯；V代表395NM紫光；

B代表455NM蓝光；G代表525NM绿光；

A代表595NM黄光；R代表625NM红光；

GY代表510-595NM黄绿光；W代表4000-600K的白光

晶片晶圆表面缺陷检测灯SL8804-GY特点：
1.窄波段输出
2.真正冷光源，100％纯的LED灯
3.LED使用寿命高达3万个小时;。
4.发黄光和绿光，人眼易感知且又不伤眼
5.可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子
6：可选择不同波段光源：365NM,395NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波；
白光：刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光：微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃，70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光：微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。

桌面式表面检查灯SL8804-GY应用
液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石