日本理研计器开尔文探针FAC-2

日本理研计器开尔文探针FAC-2

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￥ 30000 1000台

具体成交价以合同协议为准
2024-03-26 08:00:22
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秋山科技（东莞）有限公司

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产品简介

日本理研计器开尔文探针FAC-2
专用于光刻样品的开尔文探针
轻松设置样品，无需微调电极和样品之间的距离

详细介绍

日本理研计器开尔文探针FAC-2

image.png

特征

专用于光刻样品的开尔文探针

轻松设置样品，无需微调电极和样品之间的距离

可在大气中测量半导体样品的费米能级

由于测量时间短，因此非常适合测量随时间变化的情况，例如成膜或表面处理后金属表面的变化。

目的

有机电子材料的费米能级测量

金属和导电薄膜功函数的测量

日本理研计器开尔文探针FAC-2

产品分类

开尔文探针

模型

FAC-2

测量原理

开尔文法

测量零件尺寸

Φ10mm

测量能量范围

3.4 至 6.2eV（使用功函数为 5.0eV 的参考样品进行校准时）

测量时间

10 秒或更短（如果样品是金属）

重复性（标准差）

功函数0.02eV（样品：金板）

温湿度范围

温度范围15-35℃，湿度20-60%RH

电源

AC100V，50/60Hz 5A（最大）

外形尺寸

约235（宽）×330毫米（高）×408（深）毫米

重量

约12公斤


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