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XTD(B)镀层测厚仪专业表面处理检测解决方案: XTD系列测厚仪,于检测各种异形件,特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。 仪器优点: 1. 分析精度* 2. 分析范围广泛
仪器优点:
1. 分析精度高
2. 分析范围广
3. 微区定位准
4. 操作简单快捷
5. 结果可靠准
XTD(B)镀层测厚仪性能优势:
1.*的EFP算法:多层多元素、各种元素及有机物,甚至有同种元素在不同层也可准测量。
2.上照式设计:实现可对超大工件进行快、准、稳高效率测量。
3.自动对焦:高低大小样品可快速清晰对焦。
4.变焦装置算法:可对大90mm深度的凹槽高低落差件直接检测。
5.小面积测量:小测量面积0.04mm²
6.大行程移动平台:手动XY滑台100*150mm,自动XY平台210*260mm.
专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。