XTU-A X荧光光谱仪性能优势：

下照式设计：快速方便的定位各种形状的样品，满足一切测试所需。

无损变焦检测：拥有手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。

微聚焦射线装置：可测试各微小的部件，小检测面积可达0.04mm²。

高效率的接收器：在检测0.01mm²以下的样品时，几秒钟也可达到稳定性。

XTU-A X荧光光谱仪技术参数：

测量元素范围：CI(17)-U(92)

涂镀层分析范围：Li(3)-U(92)

分析软件：EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析

测试程式添加：1862条测试程式免费提供，也可编辑新程式

软件操作：人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误

X射线装置：升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦射线管

放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍

样品台尺寸：500mm*360mm

样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）

外部尺寸：540mm*430mm*475mm

电源：交流220V 50HZ  

功耗：大120W（不包括计算机）

冷却系统：对流通道过滤式风冷

保养升级模块：软硬件模块化

环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%

重量：约45KG

随机标准片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu

其他附件：电脑一套、喷墨打印机、附件箱