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X荧光测厚仪性能优势:
精密微型滑轨:精密的手动移动平台,快速准定位所需检测的样品。
EFP*算法软件:可检测单镀层,多镀层,多元合金,甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析,包括轻金属镀层,非金属镀层,达克罗,Nip镀层测试,包括Ni与P的比例也均可检测。
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片电动切换,满足各种测试方式的应用。
新一代高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率。
高效的散热系统:对流通风过滤式风冷,仪器即便全天候开启,都可保持恒温恒效。
X荧光测厚仪技术参数:
测量元素范围:CI(17)-U(92)
涂镀层分析范围:CI(17)-U(92)
分析软件:EFP,可同时分析5层镀层,10种元素,不同层有相同元素和有机物厚度也可分析
X射线装置:升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦射线管
接收器:日本东芝正比计数管,窗口面积≥150mm²
射线准直系统:垂直光路交换装置搭配黄金准直器
滤光片:铝、空、镍
准直器:ø0.5mm
近测距光斑扩散度:10%
小测量面积:约0.04mm²
对焦方式:高敏感镜头(无需增加其他辅助传感器),手动对焦