产品概述：
开发新一代产品需要新型材料科学工具来给研究者提供所需要的表征数据的能力，以确切地了解材料间的相互关系以及什么特性对材料的功能比较重要。这意味着需要开发新的方法，例如三维数据采集，去深入地探索材料的特性。扫描电子显微镜能够满足大多数传统研究的要求，但探索与开发新一代的材料需要同时具备扫描电子显微镜(SEM)和聚焦离子束(FIB)功能 。在各种各样的SEM/FIB双束系统中，Versa 3D是一款能提供更多的功能的仪器，可以满足*材料的分析需求。
如果您已经对扫描电镜非常熟悉，那么运用Versa 3D的双束技术可以使您在同一个操作平台上得到更多的实验结果，而且您在实验方案的设计上可以更少地受到约束。

主要优点：
•运用聚焦离子束技术将样品表面以下的特征，层状结构或缺陷暴露出来，然后由扫描电镜获取高质量的截面图像。
•运用聚焦离子束技术收集新信息（例如通道衬度）以及对次表层进行解析，然后使用扫描电镜来获取成分，密度或分析信息。这些信息甚至在*不导电的样品上也可以获得。
•为原子级分辨率的透射电镜定点制备TEM样品薄片。
•在环境扫描电镜模式使用冷台或热台，将扫描电镜的成像扩展到原始的含水样品成像或进行原位动态实验。
新技术扩展了Versa 3D能够适应的样品和应用的范围：
•运用荷电平衡技术，如低真空扫描电镜模式，Smart-SCAN 及 漂移抑制加工，对不导电的样品上进行表征，以及从易于积累荷电和漂移的材料上制备样品。
•增加选配的UC单色的电子源允许用低电压和高分辨SEM在电子束敏感样品或者难于观察的材料上，而不放弃优秀的分析性能（只在Versa 3D高真空）。