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FEI QUANTA™产品系列包括6个变量的压力和环境扫描电子显微镜（ESEM™）和两个DualBeam™系统，所有这些
都可以容纳多个样品和工业过程控制实验室，材料科学实验室和生命科学实验室的成像要求。
• 最小化样品制备的数量，低真空和 ESEM功能可实现绝缘及/或含水样品的无荷电成像和分析。
• 通过 Quanta 的“经由透镜”压差真空技术，可在高真空和低真空条件下对导电和绝缘样品进行EDS和EBSD分析，提高分析能力。稳定的高射束电流（高达 2 μA）可实现快速准确的分析。
• 使用原位样品台在-165 °C - 1500 °C 环境温度条件下执行各种自然状态样品的动态原位分析。
• 使用可选的射束减速模式完成表面成像，以获取导电样品的表面和成分信息。
• 易用和直观性令初学者也能进行高效操作。
