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| 参数 | 技术指标 |
| 分析元素范围 | Mg-U（主要是：Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn等 |
| 元素含量分析范围 | 10ppm -99.9%（采用1024道多道分析器，分析精度更高） |
| 采用美国航天技术 | Si (PIN)半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术 |
| 测量范围 | 1－30KeV |
| 重复性 | <0.1% |
| 稳定性 | <0.01% |
| 管压 | 0kV-30kV（采用 特制的X射线管） |
| 管流 | 5μA-200μA；（可减少整机功耗和降低辐射） |
| 辐射剂量 | <25μsv/h |
| 检测时间 | <200S |
| 工作环境温度 | 温度0-40℃ |
