CIT-2000SM 便携式X荧光分析仪 X射线仪器

技术指标参数技术指标主要分析元素Ca、Fe、Ti、Mn、Cu、Pb、Zn、Mo、Ni等元素含量分析范围采用512道多道分析器 参考价面议

CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪 X射线仪器

技术指标参数技术指标分析元素范围Na-U元素含量范围1ppm-99 参考价面议

CIT-3000SM 能量色散X 荧光分析仪 X射线仪器

技术指标参数技术指标分析元素范围Na-U元素含量范围1ppm-99 参考价面议

CIT-2000SM X射线荧光分析仪 X射线仪器

技术指标参数技术指标分析元素Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Mo、Ni等元素含量分析范围2-20Ke分辨率13%样品用量10克样品粒度120目以上稳定性0.002检测时间2分钟分析误差﹤1.0%整机功耗150W工作环境温度温度0-40℃样品温度＜70℃应用范围　适用于各有色、黑色矿山、选矿厂、质检站、水泥厂、陶瓷厂、玻璃厂等化验室 参考价面议

CIT-3000SMQ 水泥全元素分析仪

技术指标参数技术指标分析元素范围Mg-U（主要是：Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn等元素含量分析范围10ppm-99.9%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）采用美国航天技术Si(PIN)半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术测量范围1－30KeV重复性稳定性管压0kV-30kV（采用特制的X射线管）管流5μA-200μA 参考价面议

YST70x射线荧光测厚仪

YST70系列测厚仪是大连远诚科技有限公司针对高精度高速度轧机研发的X射线测厚仪 参考价面议

YST70Dx射线荧光测厚仪

YST70系列测厚仪是大连远诚科技有限公司针对高精度高速度轧机研发的X射线测厚仪 参考价面议

YST30x射线荧光测厚仪

技术指标参数技术指标测量材料铝板（带）测量方法射线穿透式测量范围0-7mm 参考价面议

CIT-2000F X-γ辐射仪

技术指标参数技术指标探测器Φ50×50Nal晶体（A型）Φ30×30Nal晶体（B型）灵敏度350cps/μsv/h能量范围40kev-4Mev测量范围0～9999γ(用于铀矿勘探) 参考价面议

KJD-2000R 测氡仪

技术指标参数技术指标检测对象222Rn、220Rnα谱仪实时显示α谱线α射线能谱测量512道分析器本底计数＜0.5count/min探测灵敏度＞1.3count.min-1/Bq.m3探测下限＜2Bq/m3测量范围2-40000Bq.m3测量不确定度≤10%（K=2）测量时间＜5分钟存储功能自动保存1000条谱线 参考价面议