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国家标准冷热冲击试验箱仪器产品型号
型号 | DR-H203-100 | DR-H203-150 | DR-H203-225 | DR-H203-500 | DR-H203-800 | DR-H203-1000 |
内箱尺寸(WxHxD)mm | 400x500x500 | 500x600x500 | 500x750x600 | 700x800x900 | 1000x1000x800 | 1000x1000x1000 |
温度范围 | G:-20℃ ~ +100℃(150℃);Z:-40℃ ~ +100℃(150℃);D:-70℃ ~ +100℃(150℃) | |||||
结构 | 三箱式(低温区、高温区、测试区) / 两箱式(低温区、高温区、吊篮) | |||||
气门装置 | 强制的空气装置气门 / 吊篮 | |||||
内箱材质 | 镜面不锈钢 SUS 304 | |||||
外箱材质 | 雾面拉丝不锈钢板 / 冷轧钢板烤漆 | |||||
测试架 | 不锈钢架 | |||||
冷冻系统 | 二段式 | |||||
冷却方式 | 半密闭式双段压缩机(水冷式)/全封闭式双段压缩机(风冷式) | |||||
高温区温度 | +60 ℃~ +200 ℃ | |||||
低温区温度 | -10 ℃~ -80 ℃ /-10 ℃~ -70 ℃ | |||||
高温冲击温度范围 | +60 ℃~ +150℃ | |||||
低温冲击温度范围 | -10 ℃~ -55 ℃ /-10 ℃~ -65 ℃ | |||||
温度均匀度 | ± 2 ℃ | |||||
温度波动度 | ± 1.0 ℃ | |||||
高温冲击时间 | Rt ~ +150 ℃ /5min | |||||
低温冲击时间 | Rt ~ -55 ℃ /5min Rt ~ -65 ℃ /5min | |||||
预热时间 | 45min | |||||
预冷时间 | 100min |
温度控制与范围:温度冷热冲击试验箱能够精确控制高低温度的范围,通常低温可达-70℃,高温可达+150℃或更高。
快速温度变化:设备能够在极短的时间内(通常几秒到几分钟)完成温度的转换,模拟真实的温度冲击环境。
温度波动度与均匀性:温度波动度通常要求控制在±0.5℃以内,温度均匀度在±2℃以内,确保试验箱内各个位置的样品都能经历相似的温度冲击条件。
安全保护:具备过温、过载、短路等多重安全保护措施,确保试验过程的安全性。
数据记录与分析:现代冷热冲击试验箱通常配备有数据记录系统,可以实时记录试验数据,便于后续分析。
控制系统:控制器采用先进的可编程触摸液晶显示屏,具有PID参数自整定功能,能够自动进行详细的故障显示和报警。
结构特性:内箱材质通常采用1.2mm SUS#304不锈钢,外箱材质采用1.2mm冷轧钢板,表面喷漆处理,保温层采用高强度PU发泡与高密度防火玻璃纤维棉(厚度100mm)。
温度冲击范围与恢复时间:温度冲击范围可从-30℃至150℃,温度恢复时间通常在5分钟以内。
切换时间:两箱式试验箱的样品转移时间通常小于10秒,三箱式试验箱则通过控制气体流动来完成温度冲击,切换时间快速。
噪音控制:设备运行时的噪音控制在65db以内。
耐用性和可靠性:设备采用高强度、高可靠性的结构设计,确保了设备的高可靠性和使用寿命。
环保型制冷剂:使用环保型制冷剂,确保设备更加符合环境保护要求。
冷热冲击试验箱的测试标准主要包括以下几项:
GB/T2423.1-2008试验A低温试验方法:规定了电工电子产品在低温条件下的试验方法,适用于评估产品在低温环境下的性能和可靠性。
GB/T2423.2-2008试验B高温试验方法:规定了电工电子产品在高温条件下的试验方法,用于测试产品在高温环境下的稳定性和耐久性。
GB/T10592-2008高低温箱技术条件:涉及高低温试验箱的技术条件,包括设备的性能要求和测试方法。
GJB150.3-1986JUN用设备环境试验方法:高温试验:JUN用标准,规定了JUN用设备在高温条件下的试验方法。
GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求:JUN用标准,涉及温度冲击试验的具体要求和方法。
IEC60068-2-14基本环境试验规范第2部分试验N温度变化:国际电工委员会标准,规定了在特定时间内快速温度变化试验的方法,包括温度转换时间、保持时间和极限值等参数。
ISO16750-4:涉及汽车电子设备在冷热冲击环境下的试验条件和方法。
温度范围:低温试验箱应能够达到并维持特定的低温条件,通常范围为-70℃至+150℃。检查设备是否能够满足所需的低和高温度要求。
温度波动度:试验箱在设定温度下的波动范围应尽可能小,以确保测试环境的稳定性。温度波动度通常要求不超过±0.5°C。
升降温速率:试验箱应具备快速升降温的能力,以模拟实际使用中温度变化的情况。一般要求升温速率和降温速率分别达到2-3°C/min。
温度均匀性:为限制辐射影响,设备内壁各部分温度与试验规定的温度之差不大于8%,确保试验箱内各处的温度均匀。
试验程序:包括试验前准备、样品安装、试验执行、中间检测和试验后处理等步骤。在试验过程中,需要记录样品的性能数据、外观变化和功能表现等信息,以便后续分析和评估。
试验效果评定:根据产品的性能指标和试验要求,对低温试验结果进行评定。如果产品在低温环境下的性能变化在允许范围内,则认为产品通过了低温试验;如果产品在低温环境下出现性能故障或损坏,则认为产品未通过低温试验。
符合标准:低温试验箱应满足GB/T2423.1-2008等国家标准。这些标准提供了详细的试验方法和程序,对电工电子产品在低温环境下的性能进行了全面评估。
设备性能特点:如绿色环保,微电脑控制,温度数字显示,箱内温度可调,高密度保温层,保温效果好,节能。
产品设计与开发:在产品设计的初期阶段,通过低温试验评估设计方案的可行性,确保产品能够在预期的温度范围内正常工作。这对于电子元器件制造过程中的低温工作性能和耐久性测试尤为重要,如手机、电池等在低温环境下的启动性能和稳定性都需要经过低温试验箱的严格测试。
材料测试:低温试验箱用于测试电子组件中的各种材料(如塑料、金属、陶瓷)在温度下的物理和化学性质,如热膨胀系数、耐热性、抗冷裂性等。
组件和部件测试:检验电子元件(如半导体芯片、电阻、电容、电感)在高温或低温环境下的性能稳定性,包括电气参数、功能可靠性等。
产品可靠性验证:通过高温和低温循环测试来模拟产品在实际使用中可能遇到的环境变化,评估产品的耐温差性能和长期可靠性。
环境适应性评估:确保电子产品能够在全球不同气候区域(如热带、寒带、高原)正常工作,满足不同地区用户的需求。
质量控制与标准符合性:在生产过程中,使用低温试验箱进行产品质量控制,确保每批产品都能满足环境适应性要求。进行各种国际和国内标准的测试,如IEC、MIL-STD、ISO、ASTM等,以证明产品符合规定的环境测试标准。
故障分析与改进:当产品在现场使用中出现故障时,可以通过低温试验箱复现故障条件,帮助工程师分析故障原因并进行设计改进。
市场竞争力提升:通过低温环境试验,证明产品的环境适应性和可靠性,增强客户信心,提升产品市场竞争力。
国际电工委员会(IEC)标准:
IEC 60068-2-14:这是国际电工委员会制定的一个标准,用于评估电子产品和材料在温度变化下的可靠性和耐受性。该标准覆盖了一系列冷热冲击试验箱的设计和使用要求,以及相关试验方法。
中国国家标准(GB):
GB/T 2423.1-2008:电工电子产品环境试验 第2部分:试验A:低温。
GB/T 2423.2-2008:电工电子产品环境试验 第2部分:试验B:高温。
GB/T 2423.22-2002:电工电子产品环境试验 第22部分:试验方法、试验Ka:冷热冲击。
美国JUN用标准(MIL-STD):
MIL-STD-810F:环境工程考虑和实验室试验,其中包含了对冷热冲击试验的要求。
国际标准化组织(ISO)标准:
ISO 16750-4:规定了汽车电子设备在冷热冲击环境下的试验条件和方法。
国JUN标(GJB):
GJB 150-86:JUN用设备环境试验方法,其中包括了高温试验和低温试验的要求,适用于JUN用设备的环境适应性测试。