微焦斑 XRF 光谱仪 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列

微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

X-Strata920

X-Strata920

• 正比计数器或高分辨率 SDD

• 元素范围：钛 - 铀，或铝 - 铀（SDD）

• 样品舱设计：开槽式

• XY 轴样品台选择： 固定台、加深台、自动台

• 样品尺寸：270 x 500 x 150毫米

• 数量准直器：6

• 滤光片：1

• 最小的准直器： x 毫米( x10 mil)

• SmartLink 软件

FT110A

FT110A

• 正比计数器系统

• 元素范围：钛 - 铀

• 样品舱设计：开闭式或开槽式

• XY 轴样品台选择： 开闭式固定台、开闭式程控台、开槽式固定台、开槽式程控台

• 样品尺寸：500 x 400 x 150 毫米

• 数量准直器：4

• 滤光片：初级 1，二级（可选）1

• 最小的准直器： 毫米

• X-ray Station 软件

EA6000VX

EA6000VX

• 高分辨率 SDD

• 元素范围： 镁 - 铀（使用氦气吹扫时钠 - 铀 ）

• 样品舱设计：开闭式

• XY 轴样品台选择：自动台

• 样品尺寸：270 x 220 x 150 毫米

• 数量准直器：4

• 滤光片：6 种模式自动切换

• 最小的准直器： 毫米

• X-ray Station & Mapping Station 软件

FT150

FT150

• 高分辨率 SDD

• 元素范围： 铝 - 铀

• 样品舱设计：开闭式

• XY 轴样品台选择：自动台、晶片样品台

• 样品尺寸：600 x 600 x 20 毫米

• 滤光片：1 或 3

• 毛细聚焦管 < 35 µm

• XRF控制软件