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PVC环/压样环/X射线荧光光谱仪压片机专用塑料环-华普通用
面议日本理学SmartLab带制导软件的自动多用途X射线衍射仪(XRD)
面议日本理学MiniFlex 600 台式X射线衍射仪-华普通用
面议日本理学同步热分析仪DSC8231-华普通用
面议德国蔡司 GeminiSEM 场发射扫描电子显微镜-华普通用
面议德国徕卡金相显微镜DM2700M-华普通用
面议威尔逊 VH3100 维氏硬度计
面议威尔逊 VH1102和1202维氏硬度计
面议德国蔡司共聚焦显微镜Smartproof 5-华普通用
面议美国Buehler EcoMet™ 30 自动磨抛机
面议美国Buehler AutoMet 250 研磨抛光机
面议ZEISS METROTOM三维 X 射线工业CT检测-华普通用
面议高精度X射线荧光(HDXRF)技术特别适用于对电气设备零部件和原材料中潜在有毒重金属检测,满足严格的精度要求。高样品产出和精细空间分辨率是电子行业的迫切需要。面对速度和精度的双重要求,基于HDXRF技术的HD 分析仪提供了一种两全其美的方案。
符合ASTM F2853-10和F2617标准
应用领域
* 检测玩具和儿童用品中多种元素,使其符合CPSIA规定
* 符合RoHS、F963和EN-71规定
* 快速又精确地筛检和定量分析有毒元素
* 在整个供应链中进行合规验证:
- 生产过程和成品质量分析与控制(QA/QC)
- 仓库和零售商
- 监管部门
符合标准,操作简单,携带灵活
HD ™将HDXRF标准技术从实验室推广到各种工作环境。现在,HD 既保持了HDXRF分析技术的准确性和精确度,又可方便应用于生产车间、运货码头、仓库和零售货架等场所。
快速、真实、廉价的合规
XOS公司开发了HD ,将成熟的HDXRF技术从实验室推广到了现场应用。HD 符合ASTM F2853-10和F2617标准,可以对涂层和基体中的铅元素进行精确筛检,使铅含量远低于COSIA规定的标准。
HD 分析仪可以同时测量涂层和集体中的铅含量,同时也可以精确测量消费品中的镉、砷、汞、锑以及其他备受关注的有毒元素。
出色的便利性和灵活性
现在,有了我们的新型HD 便携式分析仪,您可以在消费品供应链的任何环节,对任意大小的产品和部件进行分析,您还可以在固定和手持两种模品间随意切换。
技术特点
①传统 XRF 普遍使用金属滤光片,对原级 X 射线进行过滤,会导致荧光减弱,在测试低含量时,其结果波动较大,不具有参考性。同时滤光片数量有限,在基材有所变化时,滤光片不一定适用,导致结果偏差。 而 HD 使用双弯晶,具有聚光功能,加强
X 荧光.在低含量检出时,其结果仍然具有一定稳定性,检出限较低。而金属中元素较难检测,HD 将能更好应对。
② 软件方面,HD 使用 FP 计算方法,同时显示所有测试元素。并且结合双弯晶特点,一条曲线就能完成所有金属类别检测;而传统XRF需要应对不同的基体,单独曲线,或者特殊材质,特殊标定校正,操作较麻烦。