XP-T-2000透过率检测仪
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国产透过率测试仪,积分球采光,380-1100nm
我们提供的XP-T-2000系列国产透过率测试仪是全波长透过率测试仪,使用透射积分球采光,能够快速测量透过率,并且能实时快速准确地测量各类平面、非平面等材料的透过率,还可用于实时显示单、多点波长透过率和数据及波段平均透过率数据。适用于手机盖板IR孔、棱镜、镀膜镜、胶合镜、太阳膜、滤光片等平面、光学元件及组合镜头等的检测。
系统特点:
我们提供的国产透过率测试仪的适用场景十分广泛,在各种场景都可以使用,并且测量迅速,是可以在毫秒级时间内测量全谱信息的全波长透过率测试仪,并且使用的是积分球采光,可以测量待检测样品的透过率,还可设置检测区间,十分方便。
- 快速全谱测量,可在毫秒级时间内测量全谱信息;
- 可以适应不同实验环境,手套箱、实验室、办公室、车间均可以使用;
- 采用积分球采光,消除由样品折射率、散射等因素引起的误差;
- 软件可设置透过率质检区间,自动判断NGOK等等。
技术参数:
仪器型号 | XP-T-2000 |
检测范围 | 380-1100nm |
探测器 | Hamamatsu面阵CCD |
探测器面积 | 28.672mm*0.896mm |
像元深度 | 200ke |
动态范围 | 10000:1 |
透过率平台 | 光程可调 |
光斑大小 | ≥0.6mm |
最小测量孔径 | >1mm |
采光方式 | 透射积分球 |
信噪比(全信号) | 450:01:00 |
测量重复性 | 优于0.2%(400-1000nm) |
检出限 | 0.10% |
单次测量时间 | <1秒 |
光源功率 | 0-100W,可调 |
操作系统/接口 | Windows7/8/10 |
电源/功率 | 220V-50Hz/6W |
光谱软件 | 专用透过率光谱软件,允许用户注释图,能在线实时输出数据,反射兼顾输出CIE颜色参数,自定义打印测试报告; |
附件 | 备用灯泡2个 |
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