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差示扫描量热仪DSC测试(型号DSC 3500 Sirius)
面议激光粒度仪 型号:马尔文Mastersizer 3000
面议X射线光电子能谱仪 XPS型号:赛默飞EscaLab 250Xi
面议电化学工作站型号:上海晨华CHI-660E/i-t光电流测试/EIS电化学阻抗测试
面议单晶X射线衍射仪(SC-XRD) 型号:X’taLAB Synergy
面议TGA-DSC测试同步(综合)热分析仪(TGA/DSC)型号:瑞士 METTLER TOLEDO
面议ICP-MS测试/电感耦合等离子体质谱仪(型号Perkin Elmer Nexion 300)
面议飞行时间质谱仪Autoflex III/Maldi-tof ms测试(型号:德国Bruker Autoflex III
面议全自动化学吸附仪ChemiSorb 2720 /CO2-TPD/CO-TPD/H2-TPR测试/
面议高性能全自动压汞仪: 型号Autopore IV 9500
面议电子顺磁共振波谱仪(型号JEOL JES FA200)EPR氧空位/空穴测试
面议电子顺磁共振波谱仪 EPR/ESR型号 JES FA200
面议1.仪器设备简介
Bruker D8 Advance采用当前的技术,能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性、定量分析。仪器应包括长寿命X射线光管、高精度测角仪、能量色散探测器以及相关外围设备。设备总价14万美元。
采用新一代陶瓷X光管技术,焦斑位置稳定,衰减小,寿命长,尺寸标准;采用封闭靶技术,后期维护方便;新一代林克斯XE探测器,分辨率比上一代提升一个数量级。
2.测试项目
(1)物相定性分析
(2)物相定量分析
(3)精确测定点阵常数
(4)晶粒大小及晶格畸变测定
3.送样要求
可接收粉末、块体和薄膜测试,具体要求如下。
粉末:过200目筛,样品量不少于0.5g;极少量样品可选无背景样品台。
块体:被测面平整且尽量光滑,确保样品能装入φ25mm×3mm的样品槽,若样品尺寸更大,请咨询设备。
薄膜:若采用反射模式,尺寸要求同块体;若选用透射模式,要求样品有一定的柔韧性,具体咨询设备负责人。
液体及胶体样品:无法检测。
测试案例: