Smart Particle Investigator (SmartPI)是一款专为清洁技术领域的粒子分析而设计的软件包。
SmartPI将ZEISS的传统和FE-SEM显微镜转变为自动表征的强大工具
单个应用程序中有兴趣的粒子。
使用此软件进行常规分析-它可以让您执行标准任务和自动校准，无需用户输入。
的用户受益有多种测量参数和分类类型。
报告选项允许访问比以往更多的信息。
使用SmartPI，您可以从SEM中获得更多:数据采集加快，流程可以在夜间和周末运行，无需监视。
根据您的需求配置
样品支架用于针、过滤器和嵌入树脂上的颗粒
•简单的工作流程和友好的界面
自动系统校准启动和测量期间的间隔
•在不监测过程的情况下连续测量多个样品。

SmartPI自动执行以下任务:
•每个视场的粒子定位
•用于表征形态学的*图像分析
(大小和形状)
•eds分析，识别粒子组成
•使用分类数据库，根据类型对粒子进行分组的所有数据关联
•存储的粒子图像和数据在数据库中使用
研究和报告
提供各种数据采集和创建报告的工具
简单。更聪明。更多的集成。
smartpi为您提供SEM控制，图像处理和EDS分析的所有功能，以分析和表征颗粒。
•该系统允许您自动进行重复分析。
•获得持续的、不受监控的操作的好处。
•通过*小的操作输入，获得客观的结果。
进行分析，如颗粒计数，粒度测定和颗粒识别。
为您的应用程序创建
将常规任务自动化，让你可以自由地专注于重要的事情，如检查、描述和报告。
您可以建立全自动快速分析。
由于您从数据采集的手动任务中解脱出来，您可以利用节省下来的时间从数据中收集重要信息并做出明智的决定。
SmartPI是专为技术清洁而设计的。
它可以根据ISO 16232 / VDA 19和符合用户规格自动创建报告。
或者用它来对结果进行动态评估。
在相关粒子分析(CAPA)中，可以增加
通过使用SmartPI在光镜和电子显微镜之间的相关工作流来提*工作效率和信息深度。