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ESD-1000远方LED抗静电能力自动测试系统
面议
MAT-200D LED模组自动测试系统（针对LIGHT BAR灯条方案）
面议
LED626 LED分布光度计
面议
PCE-2000B单颗LED/模组光色电测试系统
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ATA-500UV LED自动温控光电分析测量系统-紫外
面议
PCE-2000UV 紫外LED/模组辐射测试系统
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TRA-200 LED热结构分析测试系统
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TRA-300 LED热结构分析测试系统
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DMS-8500大型显示器光学特性测试系统
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DRT-3000显示器响应时间测量仪
面议
HUD-2000抬头显示器光学特性测量系统
面议
SPIC-300 光谱彩色照度计
面议极弱亮度测量，满足HDR评价及OLED暗场测量需求
主要应用：OLED屏、FPD平板电视等极低亮度测量。
主要特点：
1）高精度测量
高稳定的、光谱响应曲线与标准CIE V(λ)曲线经过严格匹配，为亮度的精确测量提供了保证。
2）极弱亮度的测量
探测器采用恒温制冷的设计，进一步降低噪声，提高测试灵敏度，为OLED暗场的极弱亮度0.00005cd/m2的稳定测量提供了保证。
探测器采用恒温制冷的设计，进一步降低噪声，提高测试灵敏度，为OLED暗场的极弱亮度0.00005cd/m2的稳定测量提供了保证。
