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德国Nabertherm(纳博热)L,LT9/11/SKM马弗炉
面议德国纳博热L3/11-LT40/12马弗炉
面议德国纳博热L5/13-LT15/13马弗炉
面议德国纳博热L9/11/SW-LT9/12/SW马弗炉
面议德国纳博热LT5/11HA-LT15/11HA马弗炉
面议德国EPK(Elektrophysik)MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪
面议美国DefelskoPosiTector6000FXS1涂层测厚仪
面议美国DeFelskoPosiTector6000涂层测厚仪
面议美国DeFelskoPosiTector200超声波涂层测厚仪
面议英国(易高)Elcometer355涂层测厚仪
面议德国EPK(Elektrophysik)MiniTest600系列涂层测厚仪
面议德国EPK(Elektrophysik)MiniTest7400涂层测厚仪
面议
波兰Svantek公司的SV 102 / SV 102A型双通道噪声剂量计是一台数字式、双通道的测量设备,可以同时间进行剂量测量及1/1倍频程分析,能满足一般职业卫生及安全声学分析的测量工作。在这台细小的仪器上能够为护耳罩使用者直接提供倍频程数据,也针对新参考规范配合声音事件功能一齐使用
SV 102型:符合IEC 61252及ANSI S1.25-1991标准,第二级IEC 61672:2002双通道噪声计标准
或选配1/1或1/3倍频程实时分析仪功能
SV 102A型:级IEC 61672: 2002双通道噪声计
测量范围45dBA MRS~141BA峰值
可选真耳测量(MIRE)技术的SV 255配件
在真实世界中的个人听觉保护设备(PHD)的选择评估
可以平衡显示3个独立的测量参数/项目
高阶数据记录器,每通道同时间记录多达12个测量结果,包括频谱分析
记录声音事件
使用变换器电子数据表单(TEDS)技术的自动校正
64MB非挥发性内存
特制麦克风
使用2个AA碱性电池工作时间多达20小时
设计紧凑,重量轻巧,机身坚固
声学剂量计模式 | Leq,SPL,PEAK,SEL,DOSE,D_8h,LAV,SEL8,PSEL,E,E_8h,峰值计数,对于1/1倍频程分析有更多的测量 |
噪声计模式 | Leq,SPL,SEL,LEP,d,Lden,Ltm3,Ltm5,统计-Ln(L1至L99),LMAX,LMIN,LPeak 每参数/项目均有独立的滤波器及探测器作同时间测量 |
计权滤波器 | A,C及Z |
RMS探测器 | 可测峰值测的数字式真实RMS探测器,0.1dB分辨率 时间常数:Slow,Fast,Impulse |
测量范围 | 45dBA RMS~141dBA Peak动态范围:100dB |
频率范围 | 20Hz~8kHz,采样速率24kHz |
数据记录器 | 记录RMS / MAX / MIN / PEAK结果的时间历史到仪器内存,每时间增级1秒,可同时间记录多达24个测量结果 |
选配功能 | 时间信号事件记录器,1/1倍频程,1/3倍频程(仅SV 106型) |
尺寸 / 重量 | 95x83x33mm / 260g(含电池) |