CIT-3000SMD(B) X荧光分析仪

CIT-3000SMD(B) X荧光分析仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-09-27 14:58:57
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四川新先达测控技术有限公司

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产品简介

CIT-3000SMD(B) X荧光分析仪

详细介绍

一、应用领域

有色、黑色冶金、矿山样品分析,水泥全元素检测等。

二、性能特点:

♦ 样品平台自动升降,工作十分方便;
♦ 样品盘自动旋转,测量面积更大,并能大限度的消除颗粒误差和不均匀误差;
♦ 抽真空测量,可以更大限度的提高测量元素的检测限,有利于多金属测量及其他轻元素测量;
♦ *的模块化设计理念,保证了仪器后续的高扩展性;
♦ 采用低功率X光管端窗前直径更大,对样品具有更好的激发效率;
♦ 更*的硅漂移SDD电制冷半导体探测器,分辨率和计数率更高,有利于要求更高或更复杂的样品分析。

三、仪器技术指标

(1)测量范围:1-40kev;
(2)可分析元素范围:Na-U;
(3)分析含量范围:1ppm-99.99%;
(4)分辨率:优于130Ev;
(5)检出限:Pb≤5ppm;
(6)工作环境温度:0-40℃;
(7)工作环境相对湿度:≤80%(不结露)
(8)测量时间:10-2550s(时间可调)
(9)输入电源:AC 220V ±10%,50Hz;
(10)额定功率:300W;
(11)探测器类型:采用高性能电制冷硅漂移SDD探测器;
(12)500万像素的CCD摄像头,可有效的实现观察测试区域状况,并拍下物料照片,可作为检测报告的组成部分;
(13)仪器尺寸:600(W)×570(D)×570(H)mm
(14)样品腔尺寸:样品腔:300*300*100mm
(15)重量:约100Kg

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