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采用*的 slim-line 技术，并可搭载不同有效面积的XFlash® 6探头。而且，依托于改进的超级数模双通道脉冲处理器，布鲁克又一次为能谱仪的操作性和功能性建立了新的标准。利用以上，布鲁克第六代电致冷能谱仪为微米尺度甚至纳米尺度的微区分析提供了迄今为止快速和可靠的分析工具。
性能特点
1、新一代 slim-line 技术探测器，大面积SDD， 加上高性能的混合脉冲处理器，使得测试速度更快。
2、全自动化的探头控制，加上超轻的探头重量， 使得探测器移动更便捷。
3、的能量分辨率为精确的定性定量提供质量的谱图。
4、全面的原子数据库保证值得信赖的低能端谱峰识别。
5、湛的运算法则，加上的无标样和有标样相结合的分析方法，缔造最准确的定量结果。
