英国泰勒霍普森CCI SunStar非接触式光学轮廓仪

    无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI SunStar非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。  高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

    CCI SunStar极大地扩展了分析能力，同时又不至于让分析程序变得更复杂。 您可以测量各种各样的元件和表面，不需要进行复杂的测量模式切换，也不会给中间透镜的校准增加额外的负担。 通过标准化的方法、程序和，CCI SunStar可轻松地整合到您的质量管理系统中。

• 2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率
• 全量程0.1埃的分辨率
• 轻松测量反射率为0.3% - 99%的各种表面
• 自动设置，避免了操作员之间的操作差异
• 多语言版本的64位控制和分析软件