产品简介

 

产品概述

日本Mitutoyo三丰粗糙度轮廓仪SV-C3200W4

• 粗糙度测量和轮廓测量一体机,极大的节约了安装空间.

• 高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。

• X轴内置高精度玻璃光栅尺，直接读取X轴移动距离，在高精度精准定位下，完成间距参数的评价。

• 检出器测力有4mN和0.75mN可选。

轮廓测量功能
 

• Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。

• 专为SV-C-4500系列增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的专用功能。

　(1) 装配双锥面测针，实现垂直方向(上/下)连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。

　(2) 测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重。

• 的表面粗糙度/轮廓FORMTRACEPAK分析程序，通过简单的操作就能进行高级分析并即刻输出结果。

产品图片

技术参数
technical parameter