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SunScan专业版植物冠层分析仪 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
一、 用途: 简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射(PAR)的系统,提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan冠层分析系统不需要等待特殊的天气条件进行使用,可以在大多数光照条件下进行测量工作(但是是在接近中午的时候)。专业版比标准版配置上增加了BF5日照传感器,用来参照测量直接和散射的入射光,提高测量精度。
二、 特点: u 在植物冠层中测量入射和投射光量子(PAR); u 直接显示叶面积指数(LAI); u 可在阴天使用,不需要考虑特殊的天气条件; u 便携和防雨设计,采用电池供电; u 数据可自动采集,采样间隔时间1~24小时可选; u 单独SunScan探头可作为线性光量子传感器使用,可直接连接数据采集器使用。 三、 技术规格:
四、 产地: 英国 |