ContourGT表面计量系列产品
用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪

• 业界垂直分辨率
• 的可靠性和测量重复性
• 的表面测量和分析速度
• 的使用性，操作简便，分析功能强大

30年技术革新，实现非接触式表面测量技术高峰

测量硬件的设计增强生产环境中的可靠性和重复性

• 高亮度的双LED照明技术提高测量质量。
• 化的硬件设计提高了仪器对震动的容忍度和GR&R测量的能力。
• 的自动校准能力确保了仪器与仪器之间的相关性，测量准确度和重复性。

高度直观的用户界面，拥有业界的操作简便和分析功能强大

• 优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程，从而提高仪器和操作者效率
• 的可视化操作工具为用户提供易于学习和使用的数据分析选项
• 用户可自行设置数据输出的界面
  三十年技术创新，迎来第十代全新产品
  我们的干涉仪是一个包含了的垂直扫描干涉技术（VSI模式），扫描头倾斜调整，的自动校准和双LED照明等革新技术。
  ContourGT系列既结合了这些已被证实的设计功能，又在硬件上进行了大量的改进，从而给用户提供了目前精确的、重复性光学轮廓仪性能。 Bruker的光学轮廓仪具有已被证实的，将近三十年的*性能运行跟踪记录，从研究型实验室到生产型工厂的上万台安装记录。

  震动隔离性能*

  ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属铸件，此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果，从而获得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。光学计量模块(OMM)

  OMM结合了Bruker的双LED照明光源技术，在任何样品任意放大倍数下均可提供的照明强度和均匀性。OMM还能在整个10mm测量量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含三个视场目镜，以放大倍率的灵活性和稳定性。自校准功能*

  ContourGT系列可选择型号中，具有包含Bruker技术的内置一级标准自校准功能的能力，使得闭环扫描的性能。此模块包含一个参考信号，在仪器启动时对系统进行自校准，然后连续监控并校正每次测量，以保证的精确度和重复性。倾斜调整支架*

  Bruker的倾斜调整支架设计可使得OMM倾斜，而不是样品倾斜。这样，被测量的样品将总处于聚焦位置，并且在测量的视野中，确保了操作的一致性和简易性。
  *这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。自动样品台

  在ContourGT-X型号中具有全自动的8英寸或12英寸样品台。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品台。还可选配具有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。塔台

  选配的马达驱动塔台可安装最多4个干涉物镜，从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时，您的测试点始终处于聚焦和中心位置。辅助操作灯泡*

  在防震台的后面配备有一个LED光源以帮助样品聚焦和确保操作可观度。