品牌
其他厂商性质
上海市所在地
仪器特性:
■操作简单 三种操作模式:手动,数字和软件。可外接打印机或第三方软件以显示分析图表和统计值。
■提供离散点测量和厚度轮廓测量 测头可自动升降。
■丰富的扩展功能 可外接打印机,电脑和专业软件。
详细参数 | |
可测样品 | 所有的薄膜和薄片材料 |
---|---|
测量范围 | 0 - 50mil,0 - 100mil,0 - 200mil,0 - 300mil 或0 - 1270um,0 - 2540um,0 - 5080um,0 - 7620um 或0 - 1.3mm,0 - 2.5mm,0 - 5.0mm,0 - 7.5mm 或其他测量范围 当订购公制单位时,请um或mm显示 |
行程(探头缩回高度) | 对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率:0.01mil或0.1um或0.001mm,量程在0 - 200mil时; 0.1mil或1um或0.001mm,量程在0 - 300mil时。 |
精度 | +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm |
平行度 | +/-1.0um或更好 |
测头尺寸 | 直径4.3mm(薄膜) 直径15.9mm(纸张) 或针对其他材料的其他尺寸 |
测头压力 | 4.0 - 8.0psi(0.562kg/cm²),薄膜 7.3psi(0.513kg/cm²),纸张 或针对其他材料的其他设置 |
循环速率 | 20/分钟(40/分钟,可选),薄膜 20/分钟(12/分钟,可选),纸张 或针对其他材料的其他设置 |
下落速率 | 1mm/sec,纸张 |
仪器尺寸(宽x长x高) | 25 x 25 x 28 cm |
标准配置 | 主机,标准厚度片,脚踏开关 |
选配件 | 打印机,质量控制软件(Quality Control Software) |
符合标准 | ASTM D 374,TAPPI T-411,BS 2782-6,Din 53370 |