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厂 商： 美国FEI公司
型 号：Tecnai F20
到货日期： 2007年9月
技术指标：
加速电压：200kV 电子枪：热场发射电子源，能量分辨率£0.7eV；
点分辨率：0 .24 nm；信息分辨率：0 .14 nm；线分辨率：0 .102 nm；
放大倍数：25～1,030,000倍 STEM高角环形暗场像分辨率：0 .19 nm；
X射线能谱仪的元素分析范围：Be4～U92
主要用途：
透射电子显微镜用来研究各种材料的物质内部显微结构，配合能谱仪附件可以对各种元素进行微区成分分析，提供了从微米直到原子尺度直接观察形貌、界面及晶体缺陷的技术，广泛应用于材料、物理、生物、化学、光电子及纳米技术等领域。主要用途如下：观察材料的内部显微结构，分析粒径、相组成、生长取向，分析晶体及晶界的缺陷等；进行材料微区成分分析，及元素的线或面分布；利用高角环形暗场像，可以观察轻重元素的分布。
