场发射扫描电子显微镜（热场）(Field Emission Scanning Electron Microscope)
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厂商：美国FEI
型号： FEI QUANTA 250 FEG
到货日期： 2011年3月
主要参数：
1）高真空 1.0nm 30kV（SE）；3.0nm 1kV以下 ；2.5nm 30kV (BSE)
2）高真空减速模式 3.0nm1kV以下（BSE）； 2.3nm 1kV以下（ICD）
3）低真空 1.4nm 30kV（SE）；2.5nm 30kV（BSE）
4）环境真空（ESEM） 1.4nm 30kV （SE） 电子枪：高分辨肖特基场发射电子枪 加速电压：220v-30kV X射线能谱仪的元素分析范围：Be4～U92
主要用途：
金属、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌的观察；材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定；金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定；进行材料表面微区成分的定性和定量分析。
