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ARL™ PERFORM'X 顺序式 X 射线荧光光谱仪
面议XTrace-基于SEM高性能微区荧光光谱仪
面议钨灯丝扫描电子显微镜EVO 18
面议钨灯丝扫描电子显微镜EVO MA 15/LS 15
面议钨灯丝扫描电子显微镜EVO MA 10/LS 10
面议钨灯丝扫描电子显微镜EVO MA 25/LS 25
面议Chiron 300D金相磨抛机
面议Chiron 250DA智能全自动金相磨抛机
面议Cratos W50 全自动数显显微硬度计
面议蔡司Smartproof 5快速转盘共聚焦显微镜
面议蔡司LSM800白光干涉共聚焦显微镜
面议蔡司显微镜多媒体互动教学系统
面议主要参数 | |
TEM 线分辨率 | < 0.204 nm |
TEM 点分辨率 | < 0.37 nm |
TEM 放大倍数范围 | 25 ~ 650 k× |
TEM 相机放大倍数范围 | 35 ~ 910 k× |
Alpha 倾转角度范围(标准样品杆) | -90° ~ +90° |
STEM HAADF 分辨率(配有LaB6 灯丝) | ≤ 1.0 nm |
STEM 放大倍数范围 | 200 ~ 2.2 M× |
适用于多用户环境:支持成像和层析成像的多用户应用,并可配置为低温TEM应用。
更稳定:凭借稳定的系统保护外壳、恒定功率透镜和远程操作提高稳定性。