膜厚测量椭偏仪

膜厚测量椭偏仪

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具体成交价以合同协议为准
2022-12-10 15:51:48
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南京盈波光电科技有限公司

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膜厚测量椭偏仪

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型号： Smart SE                                                                                        
厂家：HORIBA Jobin Yvon
产地：法国
技术指标：
 光谱范围：450-1000nm
· 多种微光斑自动选择，精度〈1nm
· 光斑可视技术，可观测任何样品表面
· CCD探测器
· 自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向
· 自动调节; Z轴高度>35mm
主要功能及应用范围：测试各种透明薄膜膜厚。
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