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| 項目 | 描述 |
|---|---|
| 測量方向 (X射線照射方向) | 從上往下，即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對焦 |
| 外形尺寸 | 寬 x 深 x 高 [mm]： 約 407 x 770 x 400 mm |
| 樣品台設計 | 開槽式樣品倉，可以測量大型平板樣品，如尺寸大於儀器 寬度的印製線路板或小型的連接器，接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點。 Z 軸自動控制（Z 向行程：43mm） 樣品倉內部尺寸：236 x 430 x 160mm (寬 x 深 x 高) |
| X射線源 | W 靶射線管 |
| 高壓發生器 | 50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發生器，高壓多檔可調 |
| 二次濾光片 | 鈷二次濾光片，用於準確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量。 |
| X射線接收器檢(探測器) | 正比計數器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾) SDD |
| 元素範圍 | 鈦-鈾，或鋁-鈾（SDD） |
| 視頻系統 | 彩色 CCD，30 倍光學放大， 200%、300%和 400%數位放大。樣品分析區域 在使用者介面顯示，清晰、易用。 |
| Z 軸自動對焦系統 | 鐳射用於 Z 軸自動精確定位X 射線光管/檢測器與被測樣品到測試距離。 「一鍵操作」將Z 軸測試頭移動到位置，同時將樣品圖像定焦（顯示在螢幕上）。 自動而簡單的操作提高儀器測試的再現性，並將人為測量誤差降到。 注：測試距離為 12.7mm，由 X 射線測試頭自動調節高度（Z 軸）。 |
| 可測量的鍍層 元素範圍 | 元素週期表中 22 號鈦元素到 92 號鈾元素 |
| 可測量的鍍層層數 | 最多可同時測量 4 層（不含基材） |
| 可測鍍層厚度範圍 | 通常約 0.03 微米到 30 微米，根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同。 |
