X射线荧光镀层厚度测量仪 FT230

FT230X射线荧光镀层厚度测量仪 FT230

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-03-17 13:16:25
99
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产品简介

FT230的每一个部分都是为了准确测试，并大幅减少分析时间而设计的

详细介绍

  • FT230的每一个部分都是为了准确测试，并大幅减少分析时间而设计的。

    • 自动聚焦减少样品装载时间
    • Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
    • 屏幕大部分区域用来显示样品视图，提供了的可视度
    • 自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
    • 与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
    • 采用了新的使用者界面，非专业人员也能直观、方便地使用。
    • 功能强大，可同时测量四层镀层
    • 经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
    • 符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
    • 帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求
  • 分析 详细内容
    X射线管 钨(W)靶微焦点X射线管，自上向下照射式， 50 kV，1000μA，50 W
    检测器 高分辨率大面积50 mm2 SDD
    初级滤波器 5个初级滤波器(2种铝膜、钛膜、钼膜、镍膜)+ 1个无滤波器
    准直器 4个准直器，有长圆形和圆形两种可供选择，尺寸范围为从0.01 x 0.25 mm到1 mm(0.5 x 10 mil到40 mil)
    元素范围 铝(13)-铀(92)
    层数 最多5层 (4层加基底)
    可选元素 自由选择
    大气补偿 自动温度和压力补偿
    环境 空气
    规范 能量色散X射线荧光测量镀层 符合ASTM B568、DIN ISO 3497
     
    样品定位 详细内容
    样品尺寸 500 x 400 x 150 mm
    样品台行程 250 x 200 mm
    样品台尺寸 900 x 600 mm-电动样品台，开槽样品室
    270 x 210 mm-电动样品台，密闭样品室
    540 x 540 mm- 固定样品台
    样品台速度(电动配置) 80mm/s
    样品台精度(电动配置) ≤ 5 μm
    样品重量 10 kg - 固定样品台
    5 kg - 电动样品台
    z轴行程 205 mm
    工作距离 5 mm- 标称，聚焦激光器
    5至67 mm-自动对焦/自动接近(可选)
    样品台-Z轴控制 软件控制和带启动按钮的三向操纵杆(可选)
    聚焦 7.1 x 5.3 mm
    视野(广角摄像机，可选) 250 x 200mm
    定位辅助 雷射定位、预定位激光(电动样品台配置)
     
    软件 详细内容
    用户接口 FT Connect
    标准功能 镀层分析(FP和经验分析)、体相材料成分分析(FP和经验分析)、多点程序设计、定性模式、数据历史、诊断、ExTOPE云链接密码保护、多级访问控制软件
    智能识别功能 “查找我的零件”(机器视觉、二维码/条形码扫描、文本查找)、“查找我的模式”(机器视觉)
    语言 简体中文、繁体中文、捷克语、英语、法语、德语、意大利语、日语、韩语、葡萄牙语、俄语、西班牙语
    PC规格 Windows 10 64位 PC
       
    尺寸和工作环境 详细内容
    尺寸 600 x 815 x 745 mm- 密闭样品室
    900 x 931 x 745 mm- 开槽样品室，电动样品台
    重量(不含PC) 140kg
    温度范围 10 - 40 °C
    湿度范围 相对湿度:90%(无冷凝)
    供电要求 100-240 V±10% ; 47-63 Hz ; 1.5 A
    信号塔(可选) 三层红色/黄色/绿色指示灯(X射线打开/快门打开/仪器通电)
       
    Au/NiP/Cu的典型性能 Au NiP
    测试范围 0.051 - 0.09 μm
    (2.00 - 3.55 μin)    		 2.7 - 5.7 μm
    (106 - 225 μin)
    标准误差 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准
    30 s时的精度(2σ)，0.3 mm准直器 0.0025 μm @ 0.09 μm
    (0.099 μin @ 3.55 μin)    		 0.026 μm @ 5.7 μm，8 %P
     (1.02 μin @ 225 μin，8 %P)
       
    Sn/Ni/Cu的典型性能 Sn Ni
    测试范围 2.16 - 9.2 μm
    (85 - 362 μin)    		 0.97 - 15.1 μm
    (38 - 595 μin)
    标准误差 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准
    30 s时的精度(2σ)，0.3 mm准直器 0.014 μm @ 4.9 μm
    (0.55 μin @ 193 μin)    		 0.036 μm @ 4.7 μm
    (1.42 μin @ 185 μin)
       

  • FT230膜厚仪适合各种金属镀膜厚度量测

    ▶连接器镀层分析
    ▶半导体应用分析
    ▶PCB最终表面处理分析
    ▶电镀分析
    ▶镀锌及涂锌层分析
    ▶CVD和PVD镀层的分析

    FT230并符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准, 帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求

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