DualBeam 显微镜

Scios DualBeam

Thermo Scientific™ Scios™ DualBeam™ 是一款高分辨率 DualBeam 分析系统，能以出色的 2D 和 3D 性能分析包括磁性材料在内的众多样品。Scios DualBeam 的创新功能可提高通量、精度与易用性，非常适合学院、政府和工业研究环境中的高级研究与分析。

高级检测技术是 Thermo Scientific™ Scios DualBeam 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号，既节省了时间还能形成鲜明的对比度，从而有助于采集尽可能多的数据。创新的透镜下同心后散射检测器能提高效率，使您可以根据信号的角分布选择信号，从而轻松分离材料和形态对比度，即使着陆能量为 20 eV 也是如此。

Scios DualBeam 的材料科学应用

Scios DualBeam 特别适合用于金属、复合物和涂层等众多材料，能够： 

• 执行高分辨率、高对比度成像，对磁性样品也不例外 

• 使用 Trinity 检测套件同步检测材料、形态和边缘对比度，从而分析材料的各种属性 

• 借助漂移抑制光刻，无需制备样品即可制作具有位置特异性的切片，甚至可以对非导电材料进行操作 

• 生成三维数据立方体确定金属中夹杂物的大小和分布，或对裂纹各个方向的应力和应变进行分析 

• 搭配 EasyLift™ 可快速可靠地制备高质量样品，而且只需最小的电子束能量即可获得高质量的 S/TEM 结果 

• 针对 DealBeam^™ 常见应用提供的用户指南和逐步工作流程，使得任何经验水平的操作员都能即刻上手

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