-
HS-phys-SimPLe半导体晶片内部缺陷检测系统 无损探伤检测设备
HS-phys-SimPLe半导体晶片内部缺陷检测系统是专门用于包括单晶硅、碳化硅、蓝宝石等半导体晶片及晶环生产过程中以的分辨率探测晶片和晶环的内部滑移线、内部隐裂等内部缺陷检测的仪器 参考价面议 -
HS-NIR-SiRod单晶硅芯长棒红外探伤测试仪 无损探伤检测设备
HS-NIR-SiRod单晶硅芯长棒红外探伤测试仪是专门用于硅芯硅棒生产中的硅棒硅芯内部的的裂缝、杂质、黑点、阴影、微晶等缺陷探伤的仪器，可大幅提高硅芯生产过程中的效率和效益。 参考价面议 -
HS-Phys-IRis晶圆红外检测系统 无损探伤检测设备
HS-Phys-IRis晶圆红外检测系统专门用于包括硅材料等半导体晶圆及晶环生产过程中发现晶圆内部的机械隐裂等肉眼无法观测的内部缺陷，其检测直径可达420mm。 参考价面议 -
工艺软件 旋光仪
多晶硅铸锭（定向凝固）配料工艺软件是一个用于太阳能光伏多晶硅料及多晶硅铸锭配料的工艺计算软件 参考价面议 -
工艺软件
CZ直拉硅单晶配料工艺软件 参考价面议 -
母合金
■ 所谓“母合金”就是杂质元素与硅的合金，常用的有硅磷和硅硼两种，杂质浓度是10的-2次方和10的-3次方。 参考价面议 -
镓
■ 镓为IIIA族元素，原子量为69.72，英文名称为Gallium,简称Ga。质软，淡蓝色光泽。熔点29.78℃。沸点2403℃。具有无毒、不挥发、不燃、不爆炸等特性。是硅半导体掺杂的重要元素。 参考价面议 -
金属四探针电阻率方阻测试仪
合能阳光的金属四探头电阻率方阻测试仪（ HS-MPRT-5）是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器.本仪器按照半导体材料电阻率的及国家标准测试方法有关规定设计 参考价面议 -
金属四探头电阻率方阻测试仪
属四探头电阻率方阻测试仪(HS-MPRT4）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。 参考价面议 -
太阳能电池量子效率测试仪
产品介绍:
我公司销售的PVE300是基于Bentham公司专业的技术及25年的行业经验，PVE300能够快速并准确的给出分析数据，是经过市场检验的被广泛应用的*的品牌。 参考价面议 -
HS-PSTT原生多晶型号测试仪 实验室摇床
原生多晶型号测试仪是一款半导体材料型号测试仪器，具有大量程测试范围的特点，尤其适用于西门子法原生硅料生产企业的高阻硅料（含硅芯、检磷棒、检硼棒等）以及各种低阻硅料型号测量，型号电阻率测量范围为0.0001～19999Ω?cm 参考价面议 -
硅料硼磷含量测试仪
硅料磷、硼杂质含量测试仪，其主要用途是对多晶硅料的包括磷硼含量在内的超过75个元素进行分析。 参考价面议