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marsurf xr20是*上乘的表面粗糙度计量设备,能力检验室和车间提供所有符合ASEME、JIS和ISO等国际标准的参数,是MAHR累积数十年表面计量学经验发展的设备。
功能特点:
* 内置超过65种参数,R、P和W形貌
* 符合ASME/ISO/JIS或MOTIF标准。
* 监察公差和统计所有参数
* 快速建立Quick&Easy测量程序
* 综合记录
* 自动功能选取标准符合过滤器和取样长度
* 根据Ra或Rz的参数规格,支持不同的评定方法(静态或动态)
* 可调整服务和检定周期
* 仿真方式使操作员能快速地熟悉仪器
* 有十三种语言选择
组成:
* 驱动器 PGK120
* 传感器连探针套装 MFW250
* 大理石机台
* 数据处理控制器 Perthometer S2
选配:
* 测量软件操作电脑系统 MarSurf XR20
* 标准块 PGN-3
* X-Y移动台
技术数据:
驱动器*大行程 | 120mm |
测量速度 | 0.1mm/s |
直线度误差 | 0.3um/120mm |
*高解析度 | 8nm/5nm(软件) |
驱动器调节倾斜范围 | ±1° |
驱动器的高度调节范围 | 50mm |
测量范围 | ±250um/±500um(选特定的测针) |
测量压力 | 0.7mN |
测针尖 | 半径2um/90° |
测量参数 | 超过40种(75种, 软件)粗糙度、波度、P-轮廓和图案参数 |