拔插式四探针头技术指标
1、 游移率
B级…………… <0.5%
*……………<0.3%
A*………… <0.2%
2、 间距偏差
B级…………… <3%
*…………… <2%
A*………… <2%
3、 zui大针与导孔间隙:0.006mm
4、 探针材料:进口硬质合金或高速钢
5、 探针压力 标准压力:4—10N(4根针总压力)
1牛顿(N)=101.97克
6、 针尖压痕直径:25—100μm、100—250μm(簿层)
7、 500V绝缘电阻:>1000MΩ
拔插式四探针头适用范围:
1、 测量硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率,测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻。
2、 测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜的方块电阻。