OPT-2000C/M EL缺陷检测仪

OPT-2000C/M EL缺陷检测仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-12-02 07:01:07
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产品简介

■适用于电池片和组件,可检测缺陷包括:
■裂片
■微隐裂
■破洞
■断栅
■短路
■印刷不良
■工艺污染等缺陷。

详细介绍

 

OPT-2000C/M EL缺陷检测仪
适用于电池片和组件,可检测缺陷包括:
裂片
微隐裂
     
破洞
断栅
短路
印刷不良
工艺污染等缺陷。
超大靶面CCD,靶面尺寸达到15 ×25mm,是普通CCD靶面的6
镜头尺寸达到∮52mm,是普通工业镜头进光面积的5-8
超低制冷温度,zui低可达-50 ,*消除背景噪声
积分式低制冷型红外增强CCD950nm红外光透过率达到97%
非鱼眼型镜头,避免了鱼眼镜头产生的图像扭曲、图像变形、边缘阴暗等缺陷,消除了此项重要误差
功能强大的软件,品质可靠的硬件,确保产线*生产运行。
操作简便,功能齐备,确保仪器全面解决各种缺陷检测
仪器细节设计*,消除人为误操作因素
强大的软件功能,实现自动判别缺陷,自动报警,不合格图像单独存储
人工判别与自动判别相结合,可找出组件细微缺陷,实现*检测。
全自动检测---与产线结合,自动进样、自动定位、自动加电、自动检测、自动存储、自动检测、自动出样回归产线。实现组件无任何人工操作,避免人为损坏组件。
鼠标随动显示,任意指向目标位置,操作快速简便
zui大检测尺寸可达    2200mm×1200mm 
成像时间:0 ~ 5000毫秒可调节 
图像有效像素:不小于1200万像素 
CCD制冷温度:达到-50°C
CCD靶面尺寸:不小于25 mm × 15 mm 
镜头尺寸:大尺寸进光镜头,镜头直径不小于∮52mm 
可选配:光强度分布分析检测系统可以三维图像方式,直观、精确地生成各部分发光强度分布图,并标出光强精确数值。对各部分发电效率一目了然。
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