光谱椭偏仪（PH-SE型）针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于*的椭偏光路设计，高灵敏度探测单元和分析软件，可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数，光学带宽等。
- 产品特点
■连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间
■更简便快捷的样品准直方法
■软件具备丰富的材料数据库
■允许用户自定义色散模型，更方便用户研究新材料的光学性质
■全波长多角度同时数据拟合，EMA模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析
■具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
■光谱范围宽达250 - 1100nm （可扩展至250-1700nm）
■功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
- 技术指标
■光源：氙灯
■光斑直径：1-3mm
■入射角范围：20°到90°,5°/步
■波长范围：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°
■波长精度：1nm
■ 测量时间: < 8s （取决于测量模式和粗糙度）
■ 样品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm电池片, 其他尺寸
■ 测量精度：0.02nm
■ 折射率：0.0002, 100nmSiO2 on Si
■ 厚度测量范围：0.01nm ~ 50um
■ 消光比：10-6
- 可选配
■ CCD线阵列探测元件：200-850nm，350-1000nm
■样品显微镜
■高稳定性消色差补偿器
■透射测量架
■ XY移动样品台
- 典型客户
美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。
详情咨询：
北京合能阳光新能源技术有限公司
北京市通州区工业开发区光华路16号
： -104 -608
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：xiaozongyong@henergysolar.com
公司：http://www.HenergySolar.com
