XT-50型冲击试样缺口投影仪我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。是理化试验室的专用设备

技术参数：
1.投影屏内圆直径：  180mm

2.工作台尺寸：

方工作台尺寸：    110×125mm

圆工作台直径：    90mm

工作台玻璃直径：  70mm

3.工作台行程：

纵向：            ±10mm

横向：            ±10mm

升降：            ±12mm（无刻度）

4.工作台转动范围：    0~360°（无刻度）

5.仪器放大倍率：      50X

物镜放大倍率：    2.5X

投影物镜放大倍率：20X

6.光源（卤钨灯）：    12V    100W

7.电源：             220V    50Hz

8.外形尺寸：         515×224×603mm（长×宽×高）

9.重量：             约18Kg

主要配置： 
1.投影仪主机 一台
2.底座调整钮 四个
3.电源线 一根
4.卤钨灯 二个
5.平板玻璃 一块