DDR4-16位内存条测试座，导电胶结构

DDR4-16位内存条测试座，导电胶结构

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具体成交价以合同协议为准
2023-05-18 17:09:27
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深圳市欣同达科技有限公司

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产品简介

DDR4-16位内存条测试座，导电胶结构DDR内存条测试座适用于DDR3,DDR4内存条颗粒测试用于芯片的快速筛选，验证，测试，采用手动翻盖式结构，操作方便高效.测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可可选探针和导电胶结构探针可更换，维修方便，成本低

详细介绍

  适用于DDR3 DDR4 DDR5

  用于芯片的快速验证，测试. 

  适用于手测

  有探针和导电胶2种导电结构选择

  导正框可更换，多种尺寸兼容

  提供8位及16位的测试治具

 

  测试座材料： Peek陶瓷,pps,Torlon4203,PEI.Torlon5530

  座头材料： AL，Cu，POM

  探针类型： 弹簧探针/导电胶

  工作温度： -45 ~ 125度

  探针寿命： 30万次

  弹簧弹力： 20g ~ 30g per Pin

 

  电流： 1A （  电阻： 50mΩ 

  频宽： > 3.6GHZ @-1db




   

   

DDR内存条测试座

适用于DDR3,DDR4内存条颗粒测试

用于芯片的快速筛选，验证，测试，

采用手动翻盖式结构，操作方便高效.

测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可

可选探针和导电胶结构

探针可更换，维修方便，成本低

DDR内存条测试座

适用于DDR3,DDR4内存条颗粒测试

用于芯片的快速筛选，验证，测试，

采用手动翻盖式结构，操作方便高效.

测试不同尺寸的颗粒，更换限位框即可

可选探针和导电胶结构

探针可更换，维修方便，成本低

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