笔记本DDR4-96球内存颗粒测试治具—ddr内存条测试架
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适用DDR4内存颗粒测试环境:老化、测试、烧录 DDR4-96ball内存颗粒测试治具产品简介: 内存颗粒芯片测试频率:3000Mhz 内存颗粒芯片测试温度:-45°~+155° DDR内存颗粒测试治具结构:翻盖式,一拖四工位 DDR内存颗粒测试治具材料:peek
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