SE-PDR01离线式工业DR采用自主研发的碳纳米管X光管以及高分辨率平板探测器，能够快速获取优质的二维检测图像。分辨率可达到2.5μm，轻松胜任各种物体的尺寸和缺陷检测需求。广泛应用于新产品研发及质量抽检、失效分析。

产品优势                                                                     

• 高光子效率碳纳米管一体化X射线源

• 支持多角度2.5D检测(可升级为3D)

• 可提供定制化软件功能

• 一键获取高分辨率的图像

应用领域

• SMT制程bga缺陷检测

• 微型发光二极管芯片/芯片检测

• Pcb内层尺寸和缺陷检测

• 线键合缺陷检测

• IGBT元件缺陷检测

• 材料分析

• 电子连接器

系统规格

系统参数

灰度等级：14/16位

系统分辨率：2.5μm.

标准外形尺寸：1454 x 1360 x 1785 mm

整体重量：1000公斤

载物台尺寸：510 x 440 mm

倾斜角度：60°

探测器

探测器类型：数字平板探测器

像素尺寸：49.5μm(可选配更高级别)

像素数量：1300x1152(可选配更高级别)

成像面积：64x57毫米(可选配更高级别)

X射线源

工作电压：90~150千伏

工作电流：10~150μA

焦点尺寸：3~15μm(可选)

光管类型：闭管