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BHAST温湿度偏压高加速应力测试,bHAST温湿度偏压高加速应力测试(Bias Highly Accelerated Stress Test)bHAST测试为带电的高温高湿条件下的可靠性(参考与执行试验标准:JESD22-A110)。该测试的目的就是为了让器件加速腐蚀,看芯片的工作状态。施加电压的原则如下:测试芯片所有供电要接上,处于工作状态下的最小功耗。
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测试时间
通常会去做130摄氏度的测试,时间比较快,测试结果也可以得到认可。芯片测试数量为:(3个Lot,每个lot最少25颗)
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带电压拉偏 ,遵循得原则:
(1) 所有电源上电,电压:推荐操作范围电压(Maximum Recommended Operating Conditions)
(2) 芯片、材料功耗最小(数字部分不翻转、输入晶振短接、其他降功耗方法)
(3) 输入管脚在输入电压允许范围内拉高。
(4) 其他管脚,如时钟端、复位端、输出管脚在输出范围内随机拉高或者拉低