其他品牌 品牌
生产厂家厂商性质
西安市所在地
BW-3010B
晶体管光耦参数测试仪(双功能版)
BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。 ,BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降(VF)和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中,测试条件可以任意设置,测试正向压降和输出电流可达1A,操作简便,实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。
产品电气参数:
产品信息
产品型号:BW-3022A
产品名称:晶体管光耦参数测试仪;
物理规格
主机尺寸:深 305*宽 280*高 120(mm)
主机重量:<4.5Kg
主机颜色:白色系
电气环境
主机功耗:<75W
环境要求:-20℃~60℃(储存)、5℃~50℃(工作);
相对湿度:≯85%;
大气压力:86Kpa~106Kpa;
防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;
电网要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;
工作时间:连续;
服务领域:
应用场景:
▶选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)
▶检验筛选(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)
产品特点:
▶大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单
▶大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.
▶全部可编程的DUT恒流源和电压源.
▶内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.
▶高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1500V;
▶重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题;
▶软件自校准功能;
▶自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试;
▶DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型,显示测试结果是否合格,并有声光提示;
▶两种工作模式:手动、自动测试模式。
BW-3010B主机和DUT的管脚对应关系
型号类型 | P1 | T1 | P2 | T2 | P3 | T3 | P4 | T4 |
光藕PC817 | A | A测试端 | K | K测试端 | E | E测试端 | C | C测试端 |
BW-3010B测试技术指标:
1、光电传感器指标:
输入正向压降(VF)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2V | 2mV | <1%+2RD | 0-1000MA |
反向电流(Ir)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-200UA | 0.2UA | <2%+2RD | VR:0-20V |
集电极电流(Ic)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-40mA | 0.2MA | <1%+2RD | VCE:0-20V IF:0-40MA |
输出导通压降(VCE(sat))
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2.000V | 2mV | 1% +5RD | IC:0-40mA IF:0-40mA |
输出漏电流(Iceo)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2.000mA | 2UA | <2%+2RD | VR:0-20V |
2、光电耦合器:
耐压(VCEO)测试指标
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-1400V | 1V | <2%+2RD | 0-2mA |
输入正向压降(VF)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2V | 2mV | <1%+2RD | 0-1000MA |
反向漏电流(ICEO)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2000uA | 1UA | <5% +5RD | BVCE=25V |
反向漏电流(IR)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2000uA | 1UA | <5% +5RD | VR=0-20V |
电流传输比(CTR)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-9999 | 1% | 1% +5RD | BVCE:0-20V IF:0-100MA |
输出导通压降(VCE(sat))
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2.000V | 2mV | 1% +5RD | IC:0-1.000A IF:0-1.000A |
可分档位总数:10档
BW-3010B测试定义与规范:
AKEC:表示引脚自左向右排列分别为 光耦的,A K E C极.
VF:IF: 表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流.
Vce:Bv:表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压.
Vce:Ir: 表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流.
CTR:IF:表示测试光耦传输比时输入端的测试电流。
CTR:Vce:表示测试光耦传输比时输出端的测试电压。
Vsat:IF:表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流。
Vsat:Ic:表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流。