半导体高加速温湿度应力试验系统
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半导体高加速温湿度应力试验系统

BW-HAST-H4半导体高加速温湿度应力试验系统

参考价: ￥100008
具体成交价以合同协议为准
2023-12-23 16:46:14
109
属性：
产地:国产；
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规格：
BW-HAST-H4;
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产品属性
产地
国产
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半导体高加速温湿度应力试验系统

参考价: ￥100008

BW-HAST-H4 100008元 10 件可售
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陕西博微电通科技有限责任公司

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产品简介

适用于 SI/SIC/GaN 芯片的各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT、IPM、桥堆等半导体器件进行 HAST 试验。
符合JESD22-A101、AEC-Q101 等试验标准要求

详细介绍


BW-HAST-H4

高加速温湿度应力试验系统


             高加速温湿度应力试验系统BW-HAST-H4 适用于 SI/SIC/GaN 芯片的各种封装类型的二极管、三极管、SCR、                         MOSFET、IGBT、IPM、桥堆等 半导体器件进行 HAST 试验。

技术特点 Technical characteristics

■实时监测每个器件的反偏电压、漏电流；

■电压可达6000V;;

■对于模块上下桥可同时加电同时监测漏电；

■整个试验过程的数据(漏电流、反偏电压、温度、湿度) 记录并存储。并输出为Excel  报表和绘制全过程漏电流IR 曲

■设定漏电上限可快速切断该回路电压；

■可根据用户的需求，定制各种老化板及测试程序。


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