芯片耐热测试耐高低温湿热折弯实验箱
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HT-320PFC-U芯片耐热测试耐高低温湿热折弯实验箱

参考价: 订货量:
69000 1

具体成交价以合同协议为准
2024-12-17 11:07:01
102
属性:
产地:国产;产品用途:可做多点疲劳测试,采用两组电动伺服缸做上下左右两方向高精密运动。可同时设定运行位;
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产品属性
产地
国产
产品用途
可做多点疲劳测试,采用两组电动伺服缸做上下左右两方向高精密运动。可同时设定运行位
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广东皓天检测仪器有限公司

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产品简介

芯片耐热测试耐高低温湿热折弯实验箱
是一款专为传真机内部 FPC 软线排加工而精心设计研发的专业设备。它充分考虑了传真机在各种复杂环境下的使用需求,具备出色的耐寒耐湿热性能,能够在低温、高温高湿等恶劣条件下稳定运行,精准地完成 FPC 软线排的折弯加工任务,有效保障传真机的电气连接性能和整体可靠性。

详细介绍

芯片耐热测试耐高低温湿热折弯实验箱


技术参数:
1.温度范围:+20℃~ 0℃ / -10℃ / -20℃ / -30℃ / -40℃ /-50℃ / -60℃ / -70℃ / -85℃。
2.控制稳定度:±0.5℃。
3.分布均匀度:±1.5℃。
4.温度偏差:≤±2℃。
5.正常升温时间:+20℃ ~ +150℃小于45分钟非线性空载。
6.正常降温时间:+20 ~-85℃小于100分钟,+20~-70℃小于80分钟,+20~-60℃小于70分钟,+20~-50℃小于65分钟,+20~-40℃小于60分钟,+20~-20℃小于45分钟非线性空载。
7.试验速率:10 ~ 60次/分可调。
8.弯曲角度:10°~ 180°可调。
9.试验工位:每次同时进行2组。
10.弯曲次数:0 ~ 999999可预置。

芯片耐热测试耐高低温湿热折弯实验箱

加湿与除湿系统


  1. 加湿方式:采用蒸汽加湿和超声波加湿两种方式,可根据湿度设定范围和变化速率自动切换或组合使用。蒸汽加湿通过电加热水产生蒸汽,湿度控制精度高、稳定性好;超声波加湿利用超声波振子将水雾化成微小颗粒,加湿速度快、能耗低。

  2. 除湿方式:采用冷凝除湿和分子筛吸附除湿相结合的方式。冷凝除湿通过制冷系统将空气中的水蒸气冷凝成水滴排出箱外;分子筛吸附除湿则利用分子筛的吸附特性,在低湿度环境下对空气中的残留水分进行深度吸附,确保湿度控制下限能够达到 10% RH 以下。

  3. 加湿与除湿功率:根据测试箱容积和湿度调节范围确定,加湿功率一般在 1.5kW - 3kW,除湿功率在 2kW - 5kW 之间,可根据实际需求进行调整。


芯片耐热测试耐高低温湿热折弯实验箱

制冷系统


  1. 制冷方式:采用复叠式制冷系统,由高温级压缩机和低温级压缩机组成,具有制冷效率高、降温速度快、温度控制稳定等优点。

  2. 制冷机组:选用国际品牌压缩机,如德国比泽尔、美国谷轮等,确保制冷系统的可靠性和耐久性。高温级压缩机功率根据设备制冷量需求配置,低温级压缩机功率相应匹配,以实现宽范围温度调节。

  3. 冷凝器:风冷式冷凝器,采用高效换热翅片和优质风机,散热效果好,确保制冷系统稳定运行。

  4. 蒸发器:采用翅片式蒸发器,合理设计换热面积和气流通道,提高制冷效率和温湿度均匀性。


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