X-Strata920（X荧光镀层测厚仪）

X射线荧光分析仪 X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。

X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了：

• 以更有效的过程控制来提高生产力
• 有助电镀过程中的生产成本zui小化、产量zui大化
• 快速无损地分析珠宝及其他合金
• 快速分析多达4层镀层
• 经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益
• 操作简单，只需要简单的培训

的性能：

快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供*灵敏度 简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱 性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法 的*稳定性：

• 自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
• 例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正

坚固耐用的设计

• 可在实验室或生产线上操作
• 坚固的工业设计